Page 55 - 中国药房2023年10期
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            0.020                    0.030                     0.030                  0.030
                                     0.025                     0.025                  0.025
            0.015  4                 0.020                     0.020
           AU  0.010                AU  0.015  3             AU  0.015               AU 0.020  3
                                                                                      0.015
            0.005     6      10      0.010                     0.010                  0.010
                 1  3  5 7 8  9  11  0.005      7              0.005                  0.005      7
              0                        0  12        9            0                       0  1 2      9
           -0.005                   -0.005                    -0.005                 -0.005
               0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35
                       t/min                     t/min                    t/min                   t/min
                  A.系统适用性待测溶液             B.供试品溶液/未破坏溶液                C.空白辅料溶液              D.酸破坏供试品溶液
            0.035                    0.035                     0.035                  0.035
            0.030                    0.030                     0.030                  0.030
            0.025                    0.025                     0.025                  0.025
            0.020                    0.020                     0.020
           AU  0.015  3  7          AU  0.015  3             AU  0.015  3            AU 0.020  3
                                                                                      0.015
            0.010                    0.010                     0.010                  0.010
            0.005  1 2     9         0.005  12  7   9          0.005  12  7  9        0.005  1 2  7  9
              0                        0                         0                       0
           -0.005                   -0.005                    -0.005                 -0.005
               0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35  0           5         10        15       20     25        30     35
                        t/min                    t/min                    t/min                   t/min
                   E.碱破坏供试品溶液              F.氧化破坏供试品溶液              G.光照破坏供试品溶液             H.高温破坏供试品溶液
             1:杂质I;2:未知杂质;3:奥卡西平;4:杂质N;5:杂质K;6:杂质A;7:杂质D;8:杂质L;9:杂质B;10:杂质E;11:杂质C
                                        图1 系统适用性试验和破坏试验的UPLC图
          2.4 破坏试验                                           表2 奥卡西平及有关物质的线性关系、校正因子、检测
              精密称取奥卡西平片样品(批号 18108)适量(约相                          限和定量限
                                                              待测成分 回归方程       r  线性范围/(μg/mL) 校正因子 检测限/(μg/mL)定量限/(μg/mL)
          当于奥卡西平50 mg)共5份,置于50 mL容量瓶中,加入
                                                              奥卡西平 y=21 951x-159.58  0.999 9  0.192~1.440  1.00  0.046  0.152
          乙腈10 mL,超声溶解,然后分别进行酸破坏(加1 mol/L                     杂质A  y=21 885x-1 794.90 0.999 8  1.019~7.639  1.00  0.037  0.122
                                                              杂质B  y=18 752x-1 481.62 0.999 7  0.208~1.559  1.17  0.049  0.162
          盐酸溶液 2 mL,室温避光放置 2 h 后,加入 1 mol/L 氢氧
                                                              杂质C  y=62 446x-1 575.53 0.999 9  0.230~1.727  0.35  0.027  0.090
          化钠溶液 2 mL)、碱破坏(加 1 mol/L 氢氧化钠溶液 2                   杂质D  y=60 272x-3 612.11 0.999 7  0.389~2.915  0.36  0.077  0.258
                                                              杂质E  y=354 048x-4 224.70 0.999 7  0.182~1.364  0.06  0.040  0.132
          mL,室温避光放置2 h后,加入1 mol/L盐酸溶液2 mL)、                   杂质I  y=15 646x+39.82  0.999 5  0.393~2.945  1.40  0.114  0.380
          氧化破坏(加 30% 过氧化氢溶液 5 mL,室温避光放置 5                     杂质K  y=23 556x-822.44  0.999 8  0.199~1.493  /  0.054  0.181
                                                              杂质L  y=15 068x-838.02  0.999 6  0.199~1.490  /  0.055  0.185
          h)、光照破坏(2 000 lx 照射 24 h)、高温破坏(90 ℃水浴               杂质N  y=216 751x-5 643.39 0.999 9  0.200~1.503  0.10  0.039  0.130
          24 h)试验。待试验结束后,取上述各溶液,用“2.2.1”项                       /:非特定杂质,无需计算校正因子

          下溶剂稀释至刻度,摇匀,滤过,取续滤液,按“2.1”项下                       2.6 检测限与定量限
          色谱条件进样测定,记录色谱图,并以未进行上述试验                               取“2.2.2”项下混合对照品溶液,用“2.2.1”项下溶剂
          的供试品溶液(批号 18108)作为未破坏溶液进行对比。                       逐级稀释,再按“2.1”项下色谱条件进样测定,以信噪比
          结果显示,在不同破坏条件下检出的杂质种类(图1D~                          3∶1计算检测限,信噪比10∶1计算定量限。结果见表2。
          图1H)与未破坏溶液(图1B)基本一致,奥卡西平色谱峰                        2.7 精密度试验
          与各杂质色谱峰均能有效分离;其中,奥卡西平对氧、光                              取奥卡西平片样品(批号 18108),按“2.2.4”项下方
                                                             法制备供试品溶液,再按“2.1”项下色谱条件连续进样6
          照均具有较好的稳定性,酸破坏条件下杂质 I 的含量有
                                                             次,记录峰面积。结果显示,供试品溶液中仅检出杂质
          所增加,高温条件下杂质 D 的含量增加较为明显,碱破
                                                             B、D、I和未知杂质,奥卡西平和上述杂质峰面积的RSD
          坏条件下未知杂质和杂质B、D的含量均有明显增加。
                                                             为0.2%~2.7%(n=6),表明方法精密度良好。
          2.5 线性关系和校正因子考察
                                                             2.8 重复性试验
              依次移取“2.2.2”项下奥卡西平对照品溶液及单个
                                                                 取同一批奥卡西平样品(批号 18108),按“2.2.4”项
          杂质对照品储备液 0.2、0.5、0.8、1、1.2、1.5 mL,置于 100
                                                             下方法平行制备供试品溶液6份,再按“2.1”项下色谱条
          mL 容量瓶中,用“2.2.1”项下溶剂稀释至刻度,摇匀,制
                                                             件进样测定,记录峰面积。结果显示,供试品溶液中仅
          成系列线性溶液,再按“2.1”项下色谱条件进行测定,记
                                                             检出杂质B、D、I和未知杂质;按加校正因子的主成分自
          录峰面积。以奥卡西平和各杂质质量浓度(x)为横坐                           身对照法计算杂质B、D、I的含量,按不加校正因子的主
          标、峰面积(y)为纵坐标进行线性回归,并按下式计算校                         成分自身对照法计算未知杂质的含量,得上述杂质含量

          正因子:校正因子=奥卡西平线性方程的斜率/杂质线性                          及总含量的 RSD 分别为 1.5%、3.4%、2.0%、4.0%、1.1%
          方程的斜率。结果见表2。                                      (n=6)。


          中国药房  2023年第34卷第10期                                              China Pharmacy  2023 Vol. 34  No. 10    · 1201 ·
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